Ver Investigador - - Prisma - Unidad de Bibliometría

Carlos Janer Jiménez

Profesor Titular de Universidad
janer@us.es
Área de conocimiento: Tecnología Electrónica
Departamento: Ingeniería Electrónica
Grupo: Sin grupo

Investiga en

Tipo Año Título Fuente
Ponencia2014 Wavelength agile slotted fabry-pérot lasers Conference Digest - IEEE International Semiconductor Laser Conference
Artículo2013 Photosensitivity Color-Center Model for Ge-Doped Silica Preforms IEEE PHOTONICS JOURNAL
Artículo2012 Complete Fiber Bragg Grating Characterization Using an Alternative Method Based on Spectral Interferometry and Minimum-Phase Reconstruction Algorithms JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY
Artículo2012 Modeling of semiconductor optical amplifier RIN and phase noise for optical PSK systems OPTICAL AND QUANTUM ELECTRONICS
Ponencia2012 Reduction of pattern-dependent amplitude modulation for RZ data in semiconductor optical amplifier with delay interferometer Proceedings of the 2012 8th International Symposium on Communication Systems, Networks and Digital Signal Processing, CSNDSP 2012
Ponencia2011 Modeling of semiconductor optical amplifier RIN and phase noise for optical PSK systems Proceedings of the International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices, NUSOD
Artículo2011 Optical phase conjugation technique using four-wave mixing in semiconductor optical amplifier ELECTRONICS LETTERS
Artículo2010 On the correct modeling of semiconductor optical amplifier RIN and phase noise for optical phase shift keyed communication systems OPTICS EXPRESS
Artículo2010 Semiconductor optical amplifier pattern effect suppression for return-to-zero data using an optical delay interferometer OPTICAL ENGINEERING
Ponencia2005 Ge-doped silica fibers: Modelling of photosensitivity Proceedings of SPIE
Ponencia2005 GROWTH OF SECOND-ORDER FIBER GRATINGS BASED ON A NEW PHOTOSENSITIVIY MODEL Proceedings of SPIE
Ponencia1997 MODASC: ASIC for mobile data acquisition systems using satellite communications Conference on Design of Circuits and Integrated Systems. Sevilla, España : DCIS
Artículo1996 D/A-converter ASIC uses stochastic logic EDN
Letter1996 Fully parallel stochastic computation architecture IEEE Transactions on Signal Processing
Ponencia1995 Analog to digital and digital to analog conversion based on stochastic logic PROCEEDINGS OF THE 1995 IEEE IECON - 21ST INTERNATIONAL CONFERENCE ON INDUSTRIAL ELECTRONICS, CONTROL, AND INSTRUMENTATION, VOLS 1 AND 2
Ponencia1995 ASIC para sistemas de medidas ambientales X Congreso de diseño de circuitos integrados y sistemas. Zaragoza, España : DCIS
Ponencia1995 Synaptic weight generation in VLSI stochastic neural networks 1995 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NEURAL NETWORKS PROCEEDINGS, VOLS 1-6
Ponencia1994 Constrained Hopfield neural network for real-time predictive control IECON '94 - 20TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON INDUSTRIAL ELECTRONICS, CONTROL AND INSTRUMENTATION, VOL 1-3
Ponencia1994 VLSI implementation of a fully parallel stochastic neural network 1994 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NEURAL NETWORKS, VOL 1-7
Ponencia1993 Fully parallel summation in a new stochastic neural network architecture. 1993 IEEE International Conference on Neural Networks
Ponencia1993 Industrial application, 1mhz, quasi-resonant converter IEE Conference Publication
Este investigador no ha dirigido/tutorizado tesis

Proyectos de Investigación

Fecha de inicio Fecha de fin Rol Denominación Agencia financiadora
28/12/2001 27/12/2005 Investigador/a Síntesis y diseño de redes de difracción de Bragg en fibra para el procesado de señal óptica en sistemas DWDM y OTDM (TIC2001-2969-C03-02) Ministerio de Ciencia y Tecnología (Nacional)

Contratos

Fecha de inicio Fecha de fin Rol Denominación Agencia financiadora
01/04/2013 31/12/2013 Investigador/a Estudio de Sistemas de Adquisición de Datos Inalámbrico para Monitorización del Sensado en Estructuras Aeronáuticas (PI-1094) TEAMS (Parque Aeronáutico La Rinconada) (Desconocido)

Patentes

Nº Solicitud Fecha Solicitud Fecha Concesión Nombre
P201101161 20/10/2011 15/04/2014 Método y aparato de medida para la caracterización de dispositivos ópticos y fotónicos