Ver Publicación - Prisma - Unidad de Bibliometría

Modeling of the spatial structure by means of wide-angle x-ray scattering and extended x-ray-absorption fine structure for the Cu8As26Se66 and Cu26As37Se37 semiconductor alloys

GOMEZVELA, D ; ESQUIVIAS, L; PRIETO, C

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1993
Volumen: 48
Número: 14
Páginas: 10110 - 10117
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1213-07-2024
wos1113-07-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 1997

Journal Impact Factor (JIF): 2.880

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE4/45Q1T1D1

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,000

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY69/343Q1T1D280,03
PHYSICS, APPLIED31/165Q1T1D281,52
PHYSICS, CONDENSED MATTER15/74Q1T1D280,41

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

0,117

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics277/311Q4T3D9
No existen datos para la revista de esta publicación.
No exiten datos para esta publicación
# Autor Afiliación
1GOMEZVELA, D Universidad de Cadiz (Spain)
2ESQUIVIAS, LUniversidad de Cadiz (Spain)
3PRIETO, CUniversidad Autónoma de Madrid; SOLEIL Synchrotron (Spain)