Año: 2010
Journal Impact Factor (JIF): 3.5520
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
SPECTROSCOPY | SCIE | 7/42 | Q1 | T1 | D2 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 1,440
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
SPECTROSCOPY | 6/46 | Q1 | T1 | D2 | 88,04 |
Año:
2011
CiteScore:
5,800
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Atomic and Molecular Physics, and Optics | 8/141 | Q1 | T1 | D1 |
Instrumentation | 3/90 | Q1 | T1 | D1 |
Analytical Chemistry | 12/86 | Q1 | T1 | D2 |
Spectroscopy | 8/54 | Q1 | T1 | D2 |
SJR año:
2010
Factor de Impacto:
1,495
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Atomic and Molecular Physics, and Optics | 15/153 | Q1 | T1 | D1 |
Instrumentation | 5/94 | Q1 | T1 | D1 |
Analytical Chemistry | 12/101 | Q1 | T1 | D2 |
Spectroscopy | 9/62 | Q1 | T1 | D2 |
Agencia | Código de Proyecto |
---|---|
Ramon y Cajal programme | - |
Spanish Ministry of Science and Innovation | CSD2008-00023 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain) | |
2 | Endrino, J. L. | CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain) |
3 | Martínez, R. | Ctr. de Ing. Avanzada Superficies (Spain) |
4 | Albella, J. M. | CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) (Spain) |