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Fixed Pattern Noise Analysis for Feature Descriptors in CMOS APS Images

Zapata-Pérez, Juan ; Doménech-Asensi, Ginés; Ruiz-Merino, Ramón; Martínez-Álvarez, Jose Javier; Fernández-Berni, Jorge; Carmona-Galán, Ricardo

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2020
Volumen: 21
Número: 1
Número de artículo: 14
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus521-12-2024
wos522-12-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2023

Journal Impact Factor (JIF): 1.50

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATIONESCI50/76Q3T2D7

Año: 2020

Journal Citation Indicator (JCI): 0,330

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION58/72Q4T3D820,14

Año:

2020

CiteScore:

1,700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering438/693Q3T2D7
Instrumentation86/128Q3T3D7

SJR año:

2020

Factor de Impacto:

0,182

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering501/734Q4T3D7
Instrumentation107/137Q4T3D8
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# Autor Afiliación
1Zapata-Pérez, Juan Universidad Politecnica de Cartagena (Spain)
2Doménech-Asensi, GinésUniversidad Politecnica de Cartagena (Spain)
3Ruiz-Merino, RamónUniversidad Politecnica de Cartagena (Spain)
4Martínez-Álvarez, Jose JavierUniversidad Politecnica de Cartagena (Spain)
5Fernández-Berni, JorgeUniversidad de Sevilla (Spain)
6Carmona-Galán, RicardoUniversidad de Sevilla (Spain)