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Ver Publicación - Prisma - Unidad de Bibliometría
SEE characterization of the AMS 0.35 μm CMOS technology
Ramos, J.; Arias, A.; Mora, J. M.; Munoz, M.; Ragel, A.; Pinero, B.; Ceballos, J.; Carranza, L.; Sordo, S.; Lagos, M. A.; Espejo, S.
Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
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