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Characterization of the neutron induced single event upset in SRAM around high megavoltage clinical accelerators

Jiménez-Ortega, Elisa; Expósito, Maite R.; González-Soto, Xesús; Terrón, José A.; Gómez, Faustino; Sánchez-Doblado, Francisco

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2011
Número de artículo: 6131330
Páginas: 922 - 925
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus529-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1Jiménez-Ortega, ElisaUniversidad de Sevilla (Spain)
2Expósito, Maite R.Universidad de Sevilla (Spain)
3González-Soto, XesúsUniversidad de Santiago de Compostela (Spain)
4Terrón, José A.Hospital Universitario Virgen Macarena (Spain)
5Gómez, FaustinoUniversidad de Santiago de Compostela (Spain)
6Sánchez-Doblado, FranciscoUniversidad de Sevilla; Hospital Universitario Virgen Macarena (Spain)