Año: 2009
Journal Impact Factor (JIF): 2.0720
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
PHYSICS, APPLIED | SCIE | 24/108 | Q1 | T1 | D3 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,600
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
PHYSICS, APPLIED | 65/165 | Q2 | T2 | D4 | 60,91 |
Año:
2011
CiteScore:
3,700
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
General Physics and Astronomy | 37/190 | Q1 | T1 | D2 |
SJR año:
2009
Factor de Impacto:
1,510
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Physics and Astronomy (miscellaneous) | 30/242 | Q1 | T1 | D2 |
Agencia | Código de Proyecto |
---|---|
CICYT (Spain) | TEC200604538- MIC |
Electron Microscopy Center at Argonne National Laboratory | DE-AC02-06CH11357 |
EU | IST-NMP STREP-017501 |
FPU | - |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | Núez-Sánchez, S. | CSIC - Instituto de Óptica Daza de Valdés; (IO-CSIC) (Spain) |
2 | Serna, R. | CSIC - Instituto de Óptica Daza de Valdés; (IO-CSIC) (Spain) |
3 | López, J. García | CSIC-JA-USE - Centro Nacional de Aceleradores (CNA) (Spain) |
4 | Petford-Long, A. K. | Argonne National Laboratory (United States) |
5 | Tanase, M. | Argonne National Laboratory (United States) |
6 | Kabius, B. | Argonne National Laboratory (United States) |