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Practical Test Cores for the On-Chip Generation and Evaluation of Analog Test Signals: Application to a Network/Spectrum Analyzer for Analog BIST

Barragán, Manuel J.; Vázquez, Diego; Rueda, Adoración

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2009
Páginas: 244 - 247
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus321-12-2024
wos022-12-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1Barragán, Manuel J.Universidad de Sevilla (Spain)
2Vázquez, DiegoUniversidad de Sevilla (Spain)
3Rueda, AdoraciónUniversidad de Sevilla (Spain)