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Characterization of the titania nitridation reaction by time resolved in situ X-ray diffraction (XRD), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), and near-edge X-ray adsorption fine structure (NEXAFS)

Chen, Haiyan; Nambu, Akira; Wen, Wen; Graciani, Jesus; Hanson, Jonathan C.; Fujita, Etsuko; Rodriguez, José A.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2007
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus013-11-2024
wos029-10-2024
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# Autor Afiliación
1Chen, HaiyanBrookhaven National Laboratory (United States)
2Nambu, AkiraBrookhaven National Laboratory (United States)
3Wen, WenBrookhaven National Laboratory (United States)
4Graciani, JesusUniversidad de Sevilla (Spain)
5Hanson, Jonathan C.Brookhaven National Laboratory (United States)
6Fujita, EtsukoBrookhaven National Laboratory (United States)
7Rodriguez, José A.Universidad de Sevilla; Brookhaven National Laboratory (United States)