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Revision of the crystallographic data of polymorphic Y2Si2O7 and Y2SiO5 compounds

Becerro, A. I.; Escudero, A.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2004
Volumen: 77
Número: 12
Páginas: 1093 - 1102
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus3913-11-2024
wos3729-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2004

Journal Impact Factor (JIF): 0.5810

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
CRYSTALLOGRAPHYSCIE18/24Q3T3D8
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE43/60Q3T3D8

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,330

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
CRYSTALLOGRAPHY22/31Q3T3D730,65
PHYSICS, CONDENSED MATTER51/74Q3T3D731,76

Año:

2011

CiteScore:

1,700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
General Materials Science146/393Q2T2D4
Instrumentation35/90Q2T2D4

SJR año:

2004

Factor de Impacto:

0,394

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Materials Science (miscellaneous)155/400Q2T2D4
Instrumentation38/71Q3T2D6
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# Autor Afiliación
1Becerro, A. I.Universidad de Sevilla (Spain)
2Escudero, A.Universidad de Sevilla (Spain)