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Iron oxide thin films prepared by ion beam induced chemical vapor deposition: Structural characterization by infrared spectroscopy

Yubero, F.; Ocaña, M.; Justo, A.; Contreras, L.; González-Elipe, A. R.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2000
Volumen: 18
Número: 5
Páginas: 2244 - 2248
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2112-10-2024
wos1809-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2000

Journal Impact Factor (JIF): 1.5690

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMSSCIE3/16Q1T1D2
PHYSICS, APPLIEDSCIE12/70Q1T1D2

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,510

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMS9/21Q2T2D559,52
PHYSICS, APPLIED82/165Q2T2D550,61

Año:

2011

CiteScore:

2,400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Surfaces, Coatings and Films27/91Q2T1D3
Condensed Matter Physics142/383Q2T2D4
Surfaces and Interfaces20/49Q2T2D5

SJR año:

2000

Factor de Impacto:

1,374

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Surfaces, Coatings and Films8/92Q1T1D1
Condensed Matter Physics39/316Q1T1D2
Surfaces and Interfaces8/47Q1T1D2
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# Autor Afiliación
1Yubero, F.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
2Ocaña, M.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
3Justo, A.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
4Contreras, L.CSIC-USE - Instituto de Investigaciones Quimicas (IIQ) (Spain)
5González-Elipe, A. R.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)