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Effect of island coalescence on structural and electrical properties of InN thin films

Lebedev, V ; Cimalla, V; Morales, FM; Lozano, JG; Gonzalez, D; Mauder, C; Ambacher, O

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2007
Volumen: 300
Número: 1
Páginas: 50 - 56
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus229-10-2024
wos329-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2007

Journal Impact Factor (JIF): 1.950

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
CRYSTALLOGRAPHYSCIE8/25Q2T1D4

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,600

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
CRYSTALLOGRAPHY15/31Q2T2D553,23
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY139/343Q2T2D559,62
PHYSICS, APPLIED65/165Q2T2D460,91

Año:

2011

CiteScore:

3,100

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Materials Chemistry47/233Q1T1D3
Condensed Matter Physics100/383Q2T1D3
Inorganic Chemistry24/59Q2T2D5

SJR año:

2007

Factor de Impacto:

1,227

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Materials Chemistry31/241Q1T1D2
Condensed Matter Physics76/377Q1T1D3
Inorganic Chemistry14/64Q1T1D3
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# Autor Afiliación
1Lebedev, V Technische Universität Ilmenau (Germany)
2Cimalla, VTechnische Universität Ilmenau (Germany)
3Morales, FMUniversidad de Cadiz (Spain)
4Lozano, JGUniversidad de Cadiz (Spain)
5Gonzalez, DUniversidad de Cadiz (Spain)
6Mauder, CTechnische Universität Ilmenau (Germany)
7Ambacher, OTechnische Universität Ilmenau (Germany)