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Effect of dislocations on electrical and electron transport properties of InN thin films. II. Density and mobility of the carriers

Lebedev, V ; Cimalla, V; Baumann, T; Ambacher, O; Morales, FM; Lozano, JG; Gonzalez, D

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2006
Volumen: 100
Número: 9
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus8429-10-2024
wos8229-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2006

Journal Impact Factor (JIF): 2.3160

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
PHYSICS, APPLIEDSCIE14/84Q1T1D2

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,600

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
PHYSICS, APPLIED65/165Q2T2D460,91

Año:

2011

CiteScore:

3,700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
General Physics and Astronomy37/190Q1T1D2

SJR año:

2006

Factor de Impacto:

1,944

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Physics and Astronomy (miscellaneous)21/192Q1T1D2
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# Autor Afiliación
1Lebedev, V Technische Universität Ilmenau (Germany)
2Cimalla, VTechnische Universität Ilmenau (Germany)
3Baumann, TTechnische Universität Ilmenau (Germany)
4Ambacher, OTechnische Universität Ilmenau (Germany)
5Morales, FMUniversidad de Cadiz; Technische Universität Ilmenau (Spain)
6Lozano, JGUniversidad de Cadiz (Spain)
7Gonzalez, DUniversidad de Cadiz (Spain)