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Effect of dislocations on electrical and electron transport properties of InN thin films. I. Strain relief and formation of a dislocation network

Lebedev, V ; Cimalla, V; Pezoldt, J; Himmerlich, M; Krischok, S; Schaefer, JA; Ambacher, O; Morales, FM; Lozano, JG; Gonzalez, D

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2006
Volumen: 100
Número: 9
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus5221-12-2024
wos5222-12-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2006

Journal Impact Factor (JIF): 2.3160

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
PHYSICS, APPLIEDSCIE14/84Q1T1D2

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,600

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
PHYSICS, APPLIED65/165Q2T2D460,91

Año:

2011

CiteScore:

3,700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
General Physics and Astronomy37/190Q1T1D2

SJR año:

2006

Factor de Impacto:

1,944

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Physics and Astronomy (miscellaneous)21/192Q1T1D2
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# Autor Afiliación
1Lebedev, V Technische Universität Ilmenau (Germany)
2Cimalla, VTechnische Universität Ilmenau (Germany)
3Pezoldt, JTechnische Universität Ilmenau (Germany)
4Himmerlich, MTechnische Universität Ilmenau (Germany)
5Krischok, STechnische Universität Ilmenau (Germany)
6Schaefer, JATechnische Universität Ilmenau (Germany)
7Ambacher, OTechnische Universität Ilmenau (Germany)
8Morales, FMUniversidad de Cadiz; Technische Universität Ilmenau (Spain)
9Lozano, JGUniversidad de Cadiz (Spain)
10Gonzalez, DUniversidad de Cadiz (Spain)