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Characterisation of Defects at Non-Polar GaN/InGaN Junctions in Novel Materials for Application in Light Emitting Diodes

Severs, J ; Lozano, JG; Hooper, S; Nellist, PD

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2014
Volumen: 522
Número: 1
Acceso abierto: Vía dorada
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus013-11-2024
wos029-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1Severs, J University of Oxford (United Kingdom)
2Lozano, JGUniversity of Oxford (United Kingdom)
3Hooper, SSharp Laboratories of Europe Limited (United Kingdom)
4Nellist, PDUniversity of Oxford (United Kingdom)