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Editorial of the special issue TIAR: topological image analysis and recognition

Christinal, A.H.; Díaz-del-Río, F.; Marfil, R.; Abril, H.M.; Moaca, D.O.; Real, P. 

Tipo: Editorial
Año de Publicación: 2020
Volumen: 136
Páginas: 228 - 229
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus017-02-2024
wos017-02-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2020

Journal Impact Factor (JIF): 3,756

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCESCIE46/139Q2T1D4

Año: 2020

Journal Citation Indicator (JCI): 0,810

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE63/175Q2T2D464,29

Año:

2020

CiteScore:

6,700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Artificial Intelligence56/227Q1T1D3
Computer Vision and Pattern Recognition19/85Q1T1D3
Signal Processing22/108Q1T1D3
Software81/389Q1T1D3

SJR año:

2020

Factor de Impacto:

0,669

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Computer Vision and Pattern Recognition18/80Q1T1D3
Software87/352Q1T1D3
Artificial Intelligence69/210Q2T1D4
Signal Processing33/102Q2T1D4
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# Autor Afiliación
1Christinal, A.H.Karunya Institute of Technology & Sciences (India)
2Díaz-del-Río, F.Universidad de Sevilla (Spain)
3Marfil, R.Universidad de Malaga (Spain)
4Abril, H.M.Universidad de Sevilla (Spain)
5Moaca, D.O.West University of Timisoara (Romania)
6Real, P. Universidad de Sevilla (Spain)