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Secondary electrons detectors for beam tracking: micromegas and wire chamber

Pancin, J ; Chaminade, T; Drouart, A; Fernandez, B; Kebbiri, M; Naqvi, F; Riallot, M

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2009
Volumen: 4
Número: 12
Número de artículo: P12012
Acceso abierto: Vía bronce
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1230-11-2024
wos1601-12-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2009

Journal Impact Factor (JIF): 2.1020

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATIONSCIE7/58Q1T1D2

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,490

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION44/69Q3T2D736,96

Año:

2011

CiteScore:

3,500

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Mathematical Physics3/43Q1T1D1
Instrumentation10/90Q1T1D2

SJR año:

2009

Factor de Impacto:

0,759

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation19/91Q1T1D3
Mathematical Physics21/47Q2T2D5
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# Autor Afiliación
1Pancin, J CEA (France)
2Chaminade, TCEA (France)
3Drouart, ACEA (France)
4Fernandez, BConsejo Superior de Investigaciones Cientificas (CSIC) (Spain)
5Kebbiri, MCEA (France)
6Naqvi, FUniversity of Cologne; Helmholtz Association (Germany)
7Riallot, MCEA (France)