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Characterization of alpha sources prepared by direct evaporation using Rutherford backscattering spectrometry

Rodriguez, PB; Sanchez, AM; Tome, FV; Calabuig, JLF; Garcia, CR; Barber, DJ; Ager, FJ; daSilva, MF; Soares, JC

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1997
Volumen: 132
Número: 3
Páginas: 501 - 506
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
wos415-06-2024

Año: 1997

Journal Impact Factor (JIF): 1,016

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATIONSCIE9/46Q1T1D2
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGYSCIE5/34Q1T1D2
PHYSICS, ATOMIC, MOLECULAR & CHEMICALSCIE20/31Q3T2D7
PHYSICS, NUCLEARSCIE16/21Q4T3D8

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,650

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION32/69Q2T2D554,35
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGY19/40Q2T2D553,75
PHYSICS, ATOMIC, MOLECULAR & CHEMICAL21/40Q3T2D648,75
PHYSICS, NUCLEAR12/20Q3T2D642,50

Año:

2011

CiteScore:

2,300

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation26/90Q2T1D3
Nuclear and High Energy Physics23/58Q2T2D4

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

0,679

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation20/66Q2T1D4
Nuclear and High Energy Physics23/48Q2T2D5
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# Autor
1Rodriguez, PB
2Sanchez, AM
3Tome, FV
4Calabuig, JLF
5Garcia, CR
6Barber, DJ
7Ager, FJ
8daSilva, MF
9Soares, JC