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Structural study by electron diffraction on amorphous Se100-xBix films

MUNOZ, A ; CUMBRERA, FL; MARQUEZ, R

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1988
Volumen: 7
Número: 4
Páginas: 138 - 142
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus413-11-2024
wos513-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 1997

Journal Impact Factor (JIF): 0.6290

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCESCIE51/111Q2T2D5
PHYSICS, APPLIEDSCIE40/62Q3T2D7

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,710

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY115/343Q2T2D466,62
PHYSICS, APPLIED57/165Q2T2D465,76

Año:

2011

CiteScore:

4,200

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Mechanical Engineering31/487Q1T1D1
Mechanics of Materials24/296Q1T1D1
Condensed Matter Physics56/383Q1T1D2
General Materials Science51/393Q1T1D2

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

0,485

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Mechanical Engineering127/441Q2T1D3
Materials Science (miscellaneous)119/346Q2T2D4
Mechanics of Materials99/238Q2T2D5
Condensed Matter Physics168/311Q3T2D6
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# Autor Afiliación
1MUNOZ, A Universidad de Sevilla (Spain)
2CUMBRERA, FLUniversidad de Sevilla (Spain)
3MARQUEZ, RUniversidad de Sevilla (Spain)