Año: 2000
Journal Impact Factor (JIF): 0.6430
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 79/204 | Q2 | T2 | D4 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,640
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 143/306 | Q2 | T2 | D5 | 53,43 |
PHYSICS, APPLIED | 62/165 | Q2 | T2 | D4 | 62,73 |
Año:
2011
CiteScore:
3,000
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 128/589 | Q1 | T1 | D3 |
SJR año:
2000
Factor de Impacto:
0,323
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 167/422 | Q2 | T2 | D4 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | Radu, I. | Laboratoire d'Electrostatique et Matériaux Diélectriques (France) |
2 | Acedo García, Miguel | Laboratoire d'Electrostatique et Matériaux Diélectriques (France) |
3 | Filippini, J. C. | Laboratoire d'Electrostatique et Matériaux Diélectriques (France) |
4 | Notingher, P. | University Politehnica of Bucharest (Romania) |
5 | Frutos, F. | Universidad de Sevilla (Spain) |