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Automatic Single Event Effects Sensitivity Analysis of a 13-Bit Successive Approximation ADC

Marquez, F. ; Munoz, F.; Palomo, F. R.; Sanz, L.; Lopez-Morillo, E.; Aguirre, M. A.; Jimenez, A.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2015
Volumen: 62
Número: 4
Número de artículo: 7182792
Páginas: 1609 - 1616
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1513-11-2024
wos1413-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2015

Journal Impact Factor (JIF): 1.1980

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGYSCIE10/32Q2T1D3
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE136/257Q3T2D6

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,860

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC107/306Q2T2D465,20
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGY11/40Q2T1D373,75

Año:

2015

CiteScore:

3,000

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Nuclear Energy and Engineering9/53Q1T1D2
Electrical and Electronic Engineering171/660Q2T1D3
Nuclear and High Energy Physics23/63Q2T2D4

SJR año:

2015

Factor de Impacto:

0,685

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering146/677Q1T1D3
Nuclear Energy and Engineering18/63Q2T1D3
Nuclear and High Energy Physics32/66Q2T2D5
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Agencia Código de Proyecto
Arquimea Ingenieria S.L.U.PI-1159/2013
European Space Agency (ESA)FT-UNSHADES2 22981/09/NL/JK
Spanish Ministry of Economy and CompetitivenessTEC2013-47286-C3-1-R
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Marquez, F. Universidad de Sevilla (Spain)
2Munoz, F.Universidad de Sevilla (Spain)
3Palomo, F. R.Universidad de Sevilla (Spain)
4Sanz, L.Universidad de Sevilla (Spain)
5Lopez-Morillo, E.Universidad de Sevilla (Spain)
6Aguirre, M. A.Universidad de Sevilla (Spain)
7Jimenez, A.Universidad de Sevilla (Spain)