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Synthesis, structuring and characterization of rare earth oxide thin films: modeling of the effects of stress and defects on the phase stability

Gaboriaud, R.J. ; Paumier, F.; Lacroix, B.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2014
Volumen: 553
Páginas: 43 - 46
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus302-03-2024
wos202-03-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2014

Journal Impact Factor (JIF): 1,759

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMSSCIE6/17Q2T2D4
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARYSCIE110/260Q2T2D5
PHYSICS, APPLIEDSCIE63/144Q2T2D5
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE36/67Q3T2D6

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,520

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMS8/21Q2T2D464,29
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY161/343Q2T2D553,21
PHYSICS, APPLIED78/165Q2T2D553,03
PHYSICS, CONDENSED MATTER34/74Q2T2D554,73

Año:

2014

CiteScore:

3,400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Metals and Alloys17/137Q1T1D2
Surfaces, Coatings and Films20/101Q1T1D2
Electronic, Optical and Magnetic Materials48/207Q1T1D3
Materials Chemistry52/249Q1T1D3
Surfaces and Interfaces16/49Q2T1D4

SJR año:

2014

Factor de Impacto:

0,725

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Materials Chemistry63/254Q1T1D3
Metals and Alloys33/149Q1T1D3
Surfaces, Coatings and Films27/104Q1T1D3
Electronic, Optical and Magnetic Materials59/193Q2T1D4
Surfaces and Interfaces20/51Q2T2D4
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# Autor
1Gaboriaud, R.J. 
2Paumier, F.
3Lacroix, B.