Ver Publicación - Prisma - Unidad de Bibliometría

Phase transformations in Y2O3 thin films under swift Xe ions irradiation

Gaboriaud, RJ ; Jublot, M; Paumier, F; Lacroix, B

Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1820-04-2024
wos1520-04-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2013

Journal Impact Factor (JIF): 1,186

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGYSCIE12/33Q2T2D4
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATIONSCIE31/57Q3T2D6
PHYSICS, NUCLEARSCIE14/21Q3T2D7
PHYSICS, ATOMIC, MOLECULAR & CHEMICALSCIE24/33Q3T3D8

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,650

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION32/69Q2T2D554,35
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGY19/40Q2T2D553,75
PHYSICS, ATOMIC, MOLECULAR & CHEMICAL21/40Q3T2D648,75
PHYSICS, NUCLEAR12/20Q3T2D642,50

Año:

2013

CiteScore:

2,400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation28/95Q2T1D3
Nuclear and High Energy Physics26/58Q2T2D5

SJR año:

2013

Factor de Impacto:

0,678

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation22/96Q1T1D3
Nuclear and High Energy Physics29/58Q2T2D5
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# Autor
1Gaboriaud, RJ 
2Jublot, M
3Paumier, F
4Lacroix, B