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Mechanisms of damage formation in Eu-implanted GaN probed by X-ray diffraction

Lacroix, B ; Leclerc, S; Declemy, A; Lorenz, K; Alves, E; Ruterana, P

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2011
Volumen: 96
Número: 4
Número de artículo: 46002
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus4021-12-2024
wos4122-12-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2011

Journal Impact Factor (JIF): 2.1710

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
PHYSICS, MULTIDISCIPLINARYSCIE16/84Q1T1D2

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,720

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
PHYSICS, MULTIDISCIPLINARY29/98Q2T1D370,92

Año:

2011

CiteScore:

5,100

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
General Physics and Astronomy20/190Q1T1D2

SJR año:

2011

Factor de Impacto:

1,389

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Physics and Astronomy (miscellaneous)34/253Q1T1D2
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Agencia Código de Proyecto
FCT PortugalPTDC/CTM/100756/2008
la Region Basse Normandie-
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor
1Lacroix, B 
2Leclerc, S
3Declemy, A
4Lorenz, K
5Alves, E
6Ruterana, P