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Crystal defects and related stress in Y2O3 thin films: Origin, modeling, and consequence on the stability of the C-type structure

Lacroix, B ; Paumier, F; Gaboriaud, RJ

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2011
Volumen: 84
Número: 1
Número de artículo: 014104
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus4524-02-2024
wos4324-02-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2011

Journal Impact Factor (JIF): 3,691

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE13/69Q1T1D2

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,000

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY69/343Q1T1D280,03
PHYSICS, APPLIED31/165Q1T1D281,52
PHYSICS, CONDENSED MATTER15/74Q1T1D280,41

Año:

2011

CiteScore:

6,400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics24/383Q1T1D1
Electronic, Optical and Magnetic Materials16/183Q1T1D1

SJR año:

2011

Factor de Impacto:

3,326

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics17/397Q1T1D1
Electronic, Optical and Magnetic Materials10/177Q1T1D1
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# Autor
1Lacroix, B 
2Paumier, F
3Gaboriaud, RJ