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Damage formation in GaN under medium energy range implantation of rare earth ions: a combined TEM, XRD and RBS/C investigation

Lacroix, B.; Leclerc, S.; Ruterana, P.; Declémy, A.; Miranda, S. M.C.; Lorenz, K.; Alves, E.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2012
Volumen: 1342
Páginas: 27 - 32
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus020-07-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año:

2012

CiteScore:

0,400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics350/387Q4T3D10
General Materials Science310/408Q4T3D8
Mechanical Engineering383/502Q4T3D8
Mechanics of Materials242/305Q4T3D8
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# Autor Afiliación
1Lacroix, B.CIMAP - Centre de Recherche sur les Ions, les Materiaux et la Photonique (France)
2Leclerc, S.CIMAP - Centre de Recherche sur les Ions, les Materiaux et la Photonique (France)
3Ruterana, P.CIMAP - Centre de Recherche sur les Ions, les Materiaux et la Photonique (France)
4Declémy, A.Universite de Poitiers (France)
5Miranda, S. M.C.Instituto Tecnológico E Nuclear (Portugal)
6Lorenz, K.Instituto Tecnológico E Nuclear (Portugal)
7Alves, E.Instituto Tecnológico E Nuclear (Portugal)