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Evaluation of strain in GaN/AlN quantum dots by means of resonant Raman scattering: the effect of capping

Cros, A. ; Budagosky, J.A.; Garro, N.; Cantarero, A.; Coraux, J.; Renevier, H.; Proietti, M.G.; Favre-Nicolin, V.; Daudin, B.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2007
Volumen: 4
Número: 7
Páginas: 2379 - 2382
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus213-04-2024
wos213-04-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
Agencia Código de Proyecto
Generalitat Valenciana and the European NetworkNMP4-CT-2004-5 00101
Ministry of Science and Education of SpainMAT2006-01825; FEDER
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor
1Cros, A. 
2Budagosky, J.A.
3Garro, N.
4Cantarero, A.
5Coraux, J.
6Renevier, H.
7Proietti, M.G.
8Favre-Nicolin, V.
9Daudin, B.