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A depth profile XMCD study of Au/CoO/Co

Alvarenga, AD ; Garcia, F; Brewer, WD; Gruyters, M; Gierlings, M; Reis, MS; Panissod, P; Sampaio, LC; Guimaraes, AP

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2002
Volumen: 242
Número de artículo: PII S0304-8853(01)01311-7
Páginas: 958 - 960
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus629-10-2024
wos629-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2002

Journal Impact Factor (JIF): 1.0460

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARYSCIE54/173Q2T1D4
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE28/56Q2T2D5

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,730

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY107/343Q2T1D468,95
PHYSICS, CONDENSED MATTER20/74Q2T1D373,65

Año:

2011

CiteScore:

3,300

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics89/383Q1T1D3
Electronic, Optical and Magnetic Materials43/183Q1T1D3

SJR año:

2002

Factor de Impacto:

1,240

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics61/333Q1T1D2
Electronic, Optical and Magnetic Materials23/146Q1T1D2
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# Autor
1Alvarenga, AD 
2Garcia, F
3Brewer, WD
4Gruyters, M
5Gierlings, M
6Reis, MS
7Panissod, P
8Sampaio, LC
9Guimaraes, AP