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The use of SE(T) specimen fracture toughness for FFS assessment of defects in low constraint conditions

Han, JJ; Larrosa, NO ; Ainsworth, RA; Kim, YJ

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2016
Volumen: 2
Páginas: 1724 - 1737
Acceso abierto: Vía dorada
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus421-12-2024
wos422-12-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor
1Han, JJ
2Larrosa, NO 
3Ainsworth, RA
4Kim, YJ