Ver Publicación - Prisma - Unidad de Bibliometría

Spectrometric performance of SiC radiation detectors at high temperature

Jiménez-Ramos, M. C. ; García Osuna, A.; Rodriguez-Ramos, M.; Viezzer, E.; Pellegrini, G.; Godignon, P.; Rafí, J. M.; Rius, G.; García López, J.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2024
Volumen: 214
Número de artículo: 111283
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus020-07-2024
wos020-07-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2023

Journal Impact Factor (JIF): 2.80

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGYSCIE5/40Q1T1D2
PHYSICS, ATOMIC, MOLECULAR & CHEMICALSCIE10/40Q1T1D3
CHEMISTRY, PHYSICALSCIE103/178Q3T2D6

Año: 2023

Journal Citation Indicator (JCI): 0,890

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
CHEMISTRY, PHYSICAL51/178Q2T1D371,63
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGY8/40Q1T1D281,25
PHYSICS, ATOMIC, MOLECULAR & CHEMICAL6/40Q1T1D286,25

Año:

2023

CiteScore:

5,600

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Radiation11/58Q1T1D2

SJR año:

2023

Factor de Impacto:

0,504

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Radiation22/56Q2T2D4
No existen datos para la revista de esta publicación.
No exiten datos para esta publicación
# Autor Afiliación
1Jiménez-Ramos, M. C. Universidad de Sevilla (Spain)
2García Osuna, A.Universidad de Sevilla (Spain)
3Rodriguez-Ramos, M.Universidad de Sevilla (Spain)
4Viezzer, E.Universidad de Sevilla (Spain)
5Pellegrini, G.CSIC - Instituto de Microelectronica de Barcelona (IMB-CNM) (Spain)
6Godignon, P.CSIC - Instituto de Microelectronica de Barcelona (IMB-CNM) (Spain)
7Rafí, J. M.CSIC - Instituto de Microelectronica de Barcelona (IMB-CNM) (Spain)
8Rius, G.CSIC - Instituto de Microelectronica de Barcelona (IMB-CNM) (Spain)
9García López, J.Universidad de Sevilla (Spain)