Ver Publicación - Prisma - Unidad de Bibliometría

Design optimization of a Dual-Interlocked-Cell in 65 nm CMOS tolerant to Single Event Upsets

Márquez, F.; Palomo, F.; Muñoz, F.; Fougeron, D.; Menouni, M.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2023
Volumen: 18
Número: 10
Número de artículo: P10023
Acceso abierto: Vía híbrida
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus020-04-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2022

Journal Impact Factor (JIF): 1,3

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATIONSCIE52/63Q4T3D9

Año: 2022

Journal Citation Indicator (JCI): 0,290

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION64/76Q4T3D916,45

Año:

2022

CiteScore:

2,200

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Mathematical Physics36/81Q2T2D5
Instrumentation92/136Q3T3D7

SJR año:

2022

Factor de Impacto:

0,650

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation37/136Q2T1D3
Mathematical Physics27/76Q2T2D4
No existen datos para la revista de esta publicación.
No exiten datos para esta publicación
# Autor Afiliación
1Márquez, F.Universidad de Sevilla (Spain)
2Palomo, F.Universidad de Sevilla; European Organization for Nuclear Research (Switzerland)
3Muñoz, F.Universidad de Sevilla (Spain)
4Fougeron, D.Centre de Physique des Particules de Marseille (France)
5Menouni, M.Centre de Physique des Particules de Marseille (France)