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Design optimization of a Dual-Interlocked-Cell in 65 nm CMOS tolerant to Single Event Upsets

Márquez, F.; Palomo, F.; Muñoz, F.; Fougeron, D.; Menouni, M.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2023
Volumen: 18
Número: 10
Número de artículo: P10023
Acceso abierto: Vía híbrida
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus013-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2023

Journal Impact Factor (JIF): 1.30

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATIONSCIE57/76Q3T3D8

Año: 2023

Journal Citation Indicator (JCI): 0,310

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION61/76Q4T3D820,40

Año:

2023

CiteScore:

2,400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Mathematical Physics35/85Q2T2D5
Instrumentation92/141Q3T2D7

SJR año:

2023

Factor de Impacto:

0,580

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation47/136Q2T2D4
Mathematical Physics33/80Q2T2D5
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# Autor Afiliación
1Márquez, F.Universidad de Sevilla (Spain)
2Palomo, F.Universidad de Sevilla; European Organization for Nuclear Research (Switzerland)
3Muñoz, F.Universidad de Sevilla (Spain)
4Fougeron, D.Centre de Physique des Particules de Marseille (France)
5Menouni, M.Centre de Physique des Particules de Marseille (France)