Ver Publicación - Prisma - Unidad de Bibliometría

Nano-analytical and electrical characterization of 4H-SIC MOSFETs

Beltran, Ana M. ; Schamm-Chardon, Sylvie; Mortet, Vincent; Lefebvre, Matthieu; Bedel-Pereira, Elena; Cristiano, Fuccio; Strenger, Christian; Häublein, Volker; Bauer, Anton J.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2012
Volumen: 711
Páginas: 134 -
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus213-11-2024
wos213-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año:

2012

CiteScore:

0,600

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
General Materials Science266/408Q3T2D7
Mechanical Engineering319/502Q3T2D7
Mechanics of Materials204/305Q3T3D7
Condensed Matter Physics312/387Q4T3D9

SJR año:

2012

Factor de Impacto:

0,279

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Materials Science (miscellaneous)255/534Q3T2D5
Mechanical Engineering294/565Q3T2D6
Mechanics of Materials201/333Q3T2D7
Condensed Matter Physics277/411Q3T3D7
No existen datos para la revista de esta publicación.
Agencia Código de Proyecto
ANR-
BMBF01SF0804
French-German Consortium MobiSiC-
Inter Carnot Fraunhofer (PICF)-
Robert Bosch GmbH-
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Beltran, Ana M. Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées (France)
2Schamm-Chardon, SylvieUniversité Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées (France)
3Mortet, VincentUniversité Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées (France)
4Lefebvre, MatthieuUniversité Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées (France)
5Bedel-Pereira, ElenaUniversité Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées (France)
6Cristiano, FuccioUniversité Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées (France)
7Strenger, ChristianFraunhofer Institute for Integrated Systems and Device Technology IISB (Germany)
8Häublein, VolkerFraunhofer Institute for Integrated Systems and Device Technology IISB (Germany)
9Bauer, Anton J.Fraunhofer Institute for Integrated Systems and Device Technology IISB (Germany)