Ver Publicación - Prisma - Unidad de Bibliometría

Comparison of Focused Ion Beam and Conventional Techniques on Tem Specimen Preparation of Metal-Ceramic Interfaces

De Arellano Lopez, A. Ramirez; Chiou, W. A.; Faber, K. T.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 1998
Volumen: 4
Páginas: 860 - 861
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus112-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 1999

Journal Impact Factor (JIF): 1.4880

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MICROSCOPYSCIE4/10Q2T2D4

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,560

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY152/343Q2T2D555,83
MICROSCOPY6/9Q3T2D738,89

Año:

2011

CiteScore:

0,700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation60/90Q3T2D7

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

0,725

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation17/66Q1T1D3
No existen datos para la revista de esta publicación.
No exiten datos para esta publicación
# Autor Afiliación
1De Arellano Lopez, A. RamirezUniversidad de Sevilla; Robert R. McCormick School of Engineering and Applied Science (United States)
2Chiou, W. A.Robert R. McCormick School of Engineering and Applied Science (United States)
3Faber, K. T.Robert R. McCormick School of Engineering and Applied Science (United States)