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Automated diagnosis of feature model configurations

White, J. ; Benavides, D.; Schmidt, D. C.; Trinidad, P.; Dougherty, B.; Ruiz-Cortes, A.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2010
Volumen: 83
Número: 7
Páginas: 1094 - 1107
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus8613-11-2024
wos5913-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2010

Journal Impact Factor (JIF): 1.2930

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERINGSCIE34/99Q2T2D4
COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODSSCIE35/97Q2T2D4

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,330

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING19/125Q1T1D285,20
COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS20/132Q1T1D285,23

Año:

2011

CiteScore:

4,200

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Information Systems39/203Q1T1D2
Hardware and Architecture27/134Q1T1D3
Software75/357Q1T1D3

SJR año:

2010

Factor de Impacto:

0,589

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Hardware and Architecture31/126Q1T1D3
Information Systems76/239Q2T1D4
Software107/336Q2T1D4
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# Autor Afiliación
1White, J. Virginia Polytechnic Institute and State University (United States)
2Benavides, D.Universidad de Sevilla (Spain)
3Schmidt, D. C.Vanderbilt University (United States)
4Trinidad, P.Universidad de Sevilla (Spain)
5Dougherty, B.Vanderbilt University (United States)
6Ruiz-Cortes, A.Universidad de Sevilla (Spain)