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The benefit of thresholding carbon layers in electron tomographic tilt series by intensity downshifting

Gontard, Lionel C. ; Cintas, JesÚs

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2017
Volumen: 265
Número: 3
Páginas: 298 - 306
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus113-11-2024
wos113-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2017

Journal Impact Factor (JIF): 1.6930

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MICROSCOPYSCIE5/10Q2T2D5

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,980

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
MICROSCOPY3/9Q2T1D372,22

Año:

2017

CiteScore:

3,000

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Pathology and Forensic Medicine67/188Q2T2D4
Histology29/61Q2T2D5

SJR año:

2017

Factor de Impacto:

0,728

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Pathology and Forensic Medicine64/219Q2T1D3
Histology27/70Q2T2D4
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Agencia Código de Proyecto
European Union Seventh Framework Programme312483
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Gontard, Lionel C. Universidad de Cadiz (Spain)
2Cintas, JesÚsUniversidad de Sevilla (Spain)
# Corrector Afiliación
3Borkowski, Rafal E.DuninErnst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons (Germany)