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Quantification of the H content in diamondlike carbon and polymeric thin films by reflection electron energy loss spectroscopy

Yubero, F. ; Rico, V. J.; Espinós, J. P.; Cotrino, J.; González-Elipe, A. R.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2005
Volumen: 87
Número: 8
Número de artículo: 084101
Páginas: 084101-1 - 084101-3
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus5621-12-2024
wos4921-12-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2005

Journal Impact Factor (JIF): 4.1270

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
PHYSICS, APPLIEDSCIE4/83Q1T1D1

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,960

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
PHYSICS, APPLIED34/165Q1T1D379,70

Año:

2011

CiteScore:

7,000

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Physics and Astronomy (miscellaneous)4/37Q1T1D2

SJR año:

2005

Factor de Impacto:

3,755

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Physics and Astronomy (miscellaneous)6/179Q1T1D1
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# Autor Afiliación
1Yubero, F. CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
2Rico, V. J.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
3Espinós, J. P.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
4Cotrino, J.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
5González-Elipe, A. R.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)