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Cotrino, J ; Palmero, A; Rico, V; Barranco, A; Espinos, JP; Gonzalez-Elipe, AR

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2001
Volumen: 19
Número: 2
Páginas: 410 - 414
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1813-11-2024
wos1813-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2001

Journal Impact Factor (JIF): 1.5490

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE21/200Q1T1D2
PHYSICS, APPLIEDSCIE15/71Q1T1D3

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,390

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC206/306Q3T3D732,84
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY73/116Q3T2D737,50
PHYSICS, APPLIED111/165Q3T3D733,03
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# Autor Afiliación
1Cotrino, J Universidad de Sevilla (Spain)
2Palmero, AUniversidad de Sevilla (Spain)
3Rico, VUniversidad de Sevilla (Spain)
4Barranco, AUniversidad de Sevilla (Spain)
5Espinos, JPUniversidad de Sevilla (Spain)
6Gonzalez-Elipe, ARUniversidad de Sevilla (Spain)