Año: 2006
Journal Impact Factor (JIF): 0.9380
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 79/206 | Q2 | T2 | D4 |
PHYSICS, APPLIED | SCIE | 49/84 | Q3 | T2 | D6 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,440
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 193/306 | Q3 | T2 | D7 | 37,09 |
PHYSICS, APPLIED | 102/165 | Q3 | T2 | D7 | 38,49 |
Año:
2011
CiteScore:
2,600
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 158/589 | Q2 | T1 | D3 |
Electronic, Optical and Magnetic Materials | 66/183 | Q2 | T2 | D4 |
SJR año:
2006
Factor de Impacto:
0,905
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 86/527 | Q1 | T1 | D2 |
Electronic, Optical and Magnetic Materials | 45/155 | Q2 | T1 | D3 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | Chalmers University of Technology (Sweden) | |
2 | Sousa, P. | Universidade Federal de Itajuba (Brazil) |
3 | Salinas, E. | London South Bank University (United Kingdom) |
4 | Cruz, P. | Universidad de Sevilla (Spain) |
5 | Daalder, J. | Chalmers University of Technology (Sweden) |