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Quasi-TEM analysis of thick multistrip lines using an efficient iterative method

DRAKE, E ; MEDINA, F; HORNO, M

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1992
Volumen: 5
Número: 10
Páginas: 530 - 534
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1213-11-2024
wos713-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 1997

Journal Impact Factor (JIF): 0.3930

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE90/193Q2T2D5
OPTICSSCIE30/45Q3T2D7

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,350

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC216/306Q3T3D829,58
OPTICS79/106Q3T3D825,94

Año:

2011

CiteScore:

1,700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering243/589Q2T2D5
Atomic and Molecular Physics, and Optics77/141Q3T2D6
Condensed Matter Physics196/383Q3T2D6
Electronic, Optical and Magnetic Materials98/183Q3T2D6

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

0,591

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering86/418Q1T1D3
Atomic and Molecular Physics, and Optics49/111Q2T2D5
Condensed Matter Physics142/311Q2T2D5
Electronic, Optical and Magnetic Materials58/137Q2T2D5
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# Autor Afiliación
1DRAKE, E Universidad de Sevilla (Spain)
2MEDINA, FUniversidad de Sevilla (Spain)
3HORNO, MUniversidad de Sevilla (Spain)