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Mismatch-induced trade-offs and scalability of analog preprocessing visual microprocessor chips

Rodriguez-Vazquez, A ; Linan, G; Espejo, S; Dominguez-Castro, R

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2003
Volumen: 37
Número: 2
Páginas: 73 - 83
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
dialnet012-11-2024
scopus813-11-2024
wos413-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2003

Journal Impact Factor (JIF): 0.2540

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURESCIE41/47Q4T3D9
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE166/205Q4T3D9

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,310

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE51/57Q4T3D911,40
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC226/306Q3T3D826,31

Año:

2011

CiteScore:

1,300

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Surfaces, Coatings and Films44/91Q2T2D5
Signal Processing44/67Q3T2D7
Hardware and Architecture95/134Q3T3D8

SJR año:

2003

Factor de Impacto:

0,289

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Hardware and Architecture50/94Q3T2D6
Surfaces, Coatings and Films53/101Q3T2D6
Signal Processing31/40Q4T3D8
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# Autor Afiliación
1Rodriguez-Vazquez, A CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Linan, GCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Espejo, SCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Dominguez-Castro, RCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)