Año: 1998
Journal Impact Factor (JIF): 0.4160
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 96/208 | Q2 | T2 | D5 |
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | 25/52 | Q2 | T2 | D5 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 1,100
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 77/306 | Q2 | T1 | D3 | 75,00 |
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | 11/69 | Q1 | T1 | D2 | 84,78 |
Año:
2011
CiteScore:
3,100
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Instrumentation | 14/90 | Q1 | T1 | D2 |
Electrical and Electronic Engineering | 121/589 | Q1 | T1 | D3 |
SJR año:
1999
Factor de Impacto:
0,590
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 87/418 | Q1 | T1 | D3 |
Instrumentation | 22/66 | Q2 | T1 | D4 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) | |
2 | Frutos, F | Universidad de Sevilla (Spain) |
3 | Espejo, S | Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM); IEEE (United States) |
4 | Dominguez-Castro, R | Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM); IEEE (United States) |
5 | Rodriguez-Vazquez, A | Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM); IEEE (United States) |