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ESPEJO, S; RODRIGUEZVAZQUEZ, A; DOMINGUEZCASTRO, R; HUERTAS, JL; SANCHEZ-SINENCIO, E

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1994
Volumen: 29
Número: 8
Páginas: 895 - 905
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus4615-06-2024
wos3308-06-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 1997

Journal Impact Factor (JIF): 0,922

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE37/193Q1T1D2

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,490

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC48/306Q1T1D284,48

Año:

2011

CiteScore:

8,400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering13/589Q1T1D1

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

0,798

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering65/418Q1T1D2
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# Autor Afiliación
1ESPEJO, SCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2RODRIGUEZVAZQUEZ, ACSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3DOMINGUEZCASTRO, RCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4HUERTAS, JLCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5SANCHEZ-SINENCIO, ETexas A&M University (United States)