Año: 2018
Journal Impact Factor (JIF): 4.4810
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 42/266 | Q1 | T1 | D2 |
Año: 2018
Journal Citation Indicator (JCI): 1,570
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 43/312 | Q1 | T1 | D2 | 86,38 |
Año:
2018
CiteScore:
8,600
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Computer Science Applications | 43/590 | Q1 | T1 | D1 |
Electrical and Electronic Engineering | 51/669 | Q1 | T1 | D1 |
SJR año:
2018
Factor de Impacto:
0,743
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Electrical and Electronic Engineering | 133/714 | Q1 | T1 | D2 |
Computer Science Applications | 155/674 | Q2 | T1 | D3 |
Agencia | Código de Proyecto |
---|---|
Junta de Andalucia | 2012 TIC 2338 |
ONR-USA | - |
Spanish government | MINECO TEC2015-66878-C3-1-R&TEC2015-66878-C3-3-R |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) | |
2 | Fernández-Berni, Jorge | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
3 | Leñero-Bardallo, Juan Antonio | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
4 | Vornicu, Ion | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
5 | Carmona-Galán, Ricardo | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |