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Study of the TiSi interface formed by Ti deposition on a clean Si (100) surface A periodic DFT study

Añez, Rafael ; San-Miguel, Miguel A.; Sanz, Javier Fdez

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2012
Volumen: 606
Número: 7-8
Páginas: 754 - 761
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus413-11-2024
wos313-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2012

Journal Impact Factor (JIF): 1.8380

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE27/68Q2T2D4
CHEMISTRY, PHYSICALSCIE79/135Q3T2D6

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,500

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
CHEMISTRY, PHYSICAL86/156Q3T2D645,19
PHYSICS, CONDENSED MATTER37/74Q2T2D550,68

Año:

2012

CiteScore:

3,900

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics67/387Q1T1D2
Materials Chemistry31/234Q1T1D2
Surfaces and Interfaces9/49Q1T1D2
Surfaces, Coatings and Films11/93Q1T1D2

SJR año:

2012

Factor de Impacto:

1,096

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics77/411Q1T1D2
Materials Chemistry32/254Q1T1D2
Surfaces, Coatings and Films14/104Q1T1D2
Surfaces and Interfaces14/53Q2T1D3
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Agencia Código de Proyecto
Spanish Ministerio de Ciencia e Innovacion, MICINNCSD2008-0023
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Añez, Rafael Instituto Venezolano de Investigaciones Cientificas (Venezuela)
2San-Miguel, Miguel A.Universidad de Sevilla (Spain)
3Sanz, Javier FdezUniversidad de Sevilla (Spain)