Año: 2000
Journal Impact Factor (JIF): 1.0040
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 45/204 | Q1 | T1 | D3 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 1,160
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 72/306 | Q1 | T1 | D3 | 76,63 |
Año:
2011
CiteScore:
4,700
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Radiation | 3/40 | Q1 | T1 | D1 |
Condensed Matter Physics | 41/383 | Q1 | T1 | D2 |
Electrical and Electronic Engineering | 59/589 | Q1 | T1 | D2 |
SJR año:
2000
Factor de Impacto:
1,559
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|
Condensed Matter Physics | 28/316 | Q1 | T1 | D1 |
Electrical and Electronic Engineering | 24/422 | Q1 | T1 | D1 |
Radiation | 2/28 | Q1 | T1 | D1 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | Mesa, F | Universidad de Sevilla (Spain) |
2 | Oliner, AA | NYU Tandon School of Engineering (United States) |
3 | Jackson, DR | University of Houston (United States) |
4 | Freire, MJ | University of Houston (United States) |