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SiOxNy thin films with variable refraction index: microstructural, chemical and mechanical properties

Godinho, V. ; Jiménez de Haro, M. C.; García-López, J.; Goossens, V.; Terryn, H.; Delplancke-Ogletree, M. P.; Fernández, A.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2010
Volumen: 256
Número: 14
Páginas: 4548 - 4553
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2313-11-2024
wos2213-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2010

Journal Impact Factor (JIF): 1.7950

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMSSCIE7/18Q2T2D4
PHYSICS, APPLIEDSCIE41/118Q2T2D4
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE26/68Q2T2D4
CHEMISTRY, PHYSICALSCIE75/127Q3T2D6

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,030

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
CHEMISTRY, PHYSICAL34/156Q1T1D378,53
MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMS1/21Q1T1D197,62
PHYSICS, APPLIED29/165Q1T1D282,73
PHYSICS, CONDENSED MATTER14/74Q1T1D281,76

Año:

2011

CiteScore:

3,400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Surfaces, Coatings and Films16/91Q1T1D2

SJR año:

2010

Factor de Impacto:

0,922

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Surfaces, Coatings and Films21/109Q1T1D2
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Agencia Código de Proyecto
European Commission-
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Godinho, V. CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS); Université libre de Bruxelles (ULB) (Spain)
2Jiménez de Haro, M. C.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
3García-López, J.CSIC-JA-USE - Centro Nacional de Aceleradores (CNA) (Spain)
4Goossens, V.Vrije Universiteit Brussel (Belgium)
5Terryn, H.Vrije Universiteit Brussel (Belgium)
6Delplancke-Ogletree, M. P.Université libre de Bruxelles (ULB) (Belgium)
7Fernández, A.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)