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High sensitivity ion beam analytical method for studying ion implanted sic

Battistig-, Gabor ; Garcia-Lopez, Francisco Javier; Khanh-,N.Q.; Morilla-Garcia, Yolanda; Respaldiza-Galisteo, Miguel Angel; Szilágyi-,Edit

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2003
Volumen: 433-436
Páginas: 625 - 628
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus413-11-2024
wos413-11-2024

Año: 2003

Journal Impact Factor (JIF): 0.6020

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARYSCIE103/177Q3T2D6

Año:

2011

CiteScore:

0,500

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
General Materials Science260/393Q3T2D7
Mechanical Engineering318/487Q3T2D7
Mechanics of Materials198/296Q3T3D7
Condensed Matter Physics313/383Q4T3D9

SJR año:

2003

Factor de Impacto:

0,479

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Mechanical Engineering150/486Q2T1D4
Materials Science (miscellaneous)130/386Q2T2D4
Mechanics of Materials106/262Q2T2D5
Condensed Matter Physics189/341Q3T2D6
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# Autor Afiliación
1Battistig-, Gabor Research Institute for Technical Physics and Materials Science Hungarian Academy of Sciences (Hungary)
2Garcia-Lopez, Francisco JavierCSIC-JA-USE - Centro Nacional de Aceleradores (CNA) (Spain)
3Khanh-,N.Q.Research Institute for Technical Physics and Materials Science Hungarian Academy of Sciences (Hungary)
4Morilla-Garcia, YolandaCSIC-JA-USE - Centro Nacional de Aceleradores (CNA) (Spain)
5Respaldiza-Galisteo, Miguel AngelCSIC-JA-USE - Centro Nacional de Aceleradores (CNA) (Spain)
6Szilágyi-,EditWigner Research Centre for Physics (Hungary)