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Use of ion beam analysis to study in situ the oxygen diffusion and interfacial transfer coefficients in Y1Ba2Cu3O7-x thin films

Lopez, JG ; Siejka, J; Lemaitre, Y; Mage, JC; Marcilhac, B

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2001
Volumen: 15
Número: 28-29
Páginas: 1361 - 1369
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus229-10-2024
wos129-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2001

Journal Impact Factor (JIF): 0.4380

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
PHYSICS, APPLIEDSCIE58/71Q4T3D9
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE48/55Q4T3D9
PHYSICS, MATHEMATICALSCIE26/29Q4T3D9

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,230

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
PHYSICS, APPLIED141/165Q4T3D914,85
PHYSICS, CONDENSED MATTER60/74Q4T3D919,60
PHYSICS, MATHEMATICAL57/58Q4T3D102,59

Año:

2011

CiteScore:

0,900

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics264/383Q3T3D7
Statistical and Nonlinear Physics29/35Q4T3D9

SJR año:

2001

Factor de Impacto:

0,352

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics209/322Q3T2D7
Statistical and Nonlinear Physics25/31Q4T3D9
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# Autor
1Lopez, JG 
2Siejka, J
3Lemaitre, Y
4Mage, JC
5Marcilhac, B