Ver Publicación - Prisma - Unidad de Bibliometría

Charge collection efficiency degradation on Si diodes irradiated with high energy protons

Garcia Lopez, J. ; Jimenez-Ramos, M. C.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2014
Volumen: 332
Páginas: 220 - 223
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus529-10-2024
wos529-10-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2014

Journal Impact Factor (JIF): 1.1240

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGYSCIE12/34Q2T2D4
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATIONSCIE34/56Q3T2D6
PHYSICS, NUCLEARSCIE17/21Q4T3D8
PHYSICS, ATOMIC, MOLECULAR & CHEMICALSCIE28/34Q4T3D9

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,650

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION32/69Q2T2D554,35
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGY19/40Q2T2D553,75
PHYSICS, ATOMIC, MOLECULAR & CHEMICAL21/40Q3T2D648,75
PHYSICS, NUCLEAR12/20Q3T2D642,50

Año:

2014

CiteScore:

2,000

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation41/99Q2T2D5
Nuclear and High Energy Physics33/61Q3T2D6

SJR año:

2014

Factor de Impacto:

0,610

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation36/114Q2T1D4
Nuclear and High Energy Physics31/65Q3T2D5
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# Autor Afiliación
1Garcia Lopez, J. Universidad de Sevilla (Spain)
2Jimenez-Ramos, M. C.Universidad de Sevilla (Spain)