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Charge collection efficiency degradation induced by MeV ions in semiconductor devices: Model and experiment

Vittone, E. ; Pastuovic, Z.; Breese, M. B.H.; Garcia Lopez, J.; Jaksic, M.; Raisanen, J.; Siegele, R.; Simon, A.; Vizkelethy, G.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2016
Volumen: 372
Páginas: 128 - 142
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1813-11-2024
wos1713-11-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2016

Journal Impact Factor (JIF): 1.1090

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGYSCIE18/33Q3T2D6
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATIONSCIE42/58Q3T3D8
PHYSICS, NUCLEARSCIE16/20Q4T3D8
PHYSICS, ATOMIC, MOLECULAR & CHEMICALSCIE30/36Q4T3D9

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,650

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION32/69Q2T2D554,35
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGY19/40Q2T2D553,75
PHYSICS, ATOMIC, MOLECULAR & CHEMICAL21/40Q3T2D648,75
PHYSICS, NUCLEAR12/20Q3T2D642,50

Año:

2016

CiteScore:

2,600

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation39/106Q2T2D4
Nuclear and High Energy Physics28/66Q2T2D5

SJR año:

2016

Factor de Impacto:

0,662

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation32/121Q2T1D3
Nuclear and High Energy Physics28/70Q2T2D4
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Agencia Código de Proyecto
Croatian Science Foundation8127
IAEAF11016
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Vittone, E. Università degli Studi di Torino (Italy)
2Pastuovic, Z.ANSTO Life Sciences (Australia)
3Breese, M. B.H.National University of Singapore (Singapore)
4Garcia Lopez, J.Universidad de Sevilla (Spain)
5Jaksic, M.Institute Ruder Boskovic (Croatia)
6Raisanen, J.Helsingin Yliopisto (Finland)
7Siegele, R.ANSTO Life Sciences (Australia)
8Simon, A.Magyar Tudomanyos Akademia; Osterreichische Institut fur Internationale Politik (Hungary)
9Vizkelethy, G.Sandia National Laboratories (United States)